梅特勒 XP105DR分析天平

梅特勒XP105DR分析天平,十万分之一分析天平价格

型号 最大称量值（g） 可读性（mg） 重复性（sd）（mg） 线性误差（mg） 典型稳定时间（s） 秤盘尺寸(mm)

XP105DR 31/120 0.01/0.1 0.015/0.06 0.15 1.5 78×73

XP205 220 0.01 0.03 0.1 2.5 78×73

XP205DR 81/220 0.01/0.1 0.015/0.06 0.15 1.5 78×73

XP204 220 0.1 0.07 0.2 1.5 78×73

XP504 520 0.1 0.12 0.4 1.5 78×73

XP504DR 101/520 0.1/1 0.1/0.6 0.5 1.5 78×73

XP分析天平

技术特点：

1.采用高精度分辨率后置式传感器，满足用户高精度的称量需求。

2.天平的校验功能（BalanceChECK）,自动提示用户使用使用外置砝码校正/校准天平，确保称量结果始终准确。

3.GWPExcellence^TM一体化安全功能，确保天平始终正确工作。

4.优化天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求。

5.安全可拆卸，清洗的玻璃防风罩设计，实现天平的快速清洁。

6.丰富的内置称量应用程序：基础称量、统计功能、配置称量、计件称量、百分比称量、密度测量、差重称量。

水平控制系统（LevelControl）

天平在使用过程中或移动后偏离水平位置影响到称量结果的精确性时，水平控制系统会发出声音警告，并显示调整信息，准确的指导您调节天平恢复至水平位置。

红外感应器

实现无需用手接触的天平操作：开关门、去皮、回零、打印。即使称量毒性或腐蚀性样品，您也一样安全无忧！

专业级全自动校准技术（proFACT）

实现温度飘移和用户时间设置触发的全自动内置砝码校正和线性校正。