Symmetricom 5120a 相位噪声分析仪

5120A数字化相位噪声分析仪，不仅可测量相位噪声同时可测量频率稳定度，相位差，频率差，还可以作为高精度频率计使用. 全数字化测量的独有专利技术不仅使测量的速度大大缩短而且有效地提高了相位噪声测试精度。不再像其他模拟相位噪声测试仪需要搭建平台，简单易用的设备使测试成本得到降低。

 

高精度，高性价比的即时测量

5120A——全数字化、高性能相噪与阿伦方差分析仪，实现精确的相位噪声和阿伦方差测量功能的同时，简化操作并节约成本。传统模拟分析仪器需要外部锁相环，致使此类测量仪器复杂、昂贵。相比传统仪器，创新的5120A相位噪声仪只要点击一下按钮，就能快速、准确地测量SSB相位噪声和阿伦方差。

全数字化的5120A简化了复杂的操作配置和校准步骤：用户只需直接连接被测器件(DUT)和参考信号,不要求参考源频率必须与DUT同频，再按下5120A的绿色“Start”键，高分辨率屏上就会显示精准的测量数据。

5120A是Microsemi（并购了Symmetricom公司）融合了业界标准阿伦方差测量设备：5110A，所开发的新一代产品。除了优异的阿伦方差测量能力， 5120A还提供相位噪声测量，其精度达到±1.0 dB（以前不可能达到的级别）。结合准确的相位噪声和阿伦方差测量底噪，5120A能更精准地测量最低相噪。

Microsemi（并购了Symmetricom公司）精通于相位噪声、阿伦方差测量技术，善于应用高速低噪声模数转换技术的优点，从而结合多种测量工具，集成为单机解决方案。使5120A 在进行更精准的测量同时，仍可维持较低的成本。

用户可根据需要添加5120A内部基准振荡器，这单机解决方案（即5120A-01）节省寻找和校准外部参考源的时间，只要连接DUT至5120A-01，即可开始精确的测量。

5120A取代过去的复杂，昂贵的测量仪器，让测量变得更加快捷、简便、精准、经济。

 

主要特性/优点:

同时测量相噪和阿伦方差

1 - 30 MHz频率范围

即时显示测量结果: 无需外部数据处理

领先的工业级精度(±1.0 dB)

实现不同频率间的测量

阿伦方差测量（超过300天）

相位噪声测量接近载波处的0.1 mHz

无需测量校准，节省测试时间

实时显示测量结果

供用户选配：内部参考振荡器

最佳性价比解决方案

直观的远程网络管理和数据获取

易于操作的图形用户界面

相位噪声测试低至-175 dBc/Hz

品质源于传承

5120A是Microsemi（并购了Symmetricom公司）在NIST和民用产业超过20年的研究探索的智慧结晶。5120A多功能测试仪结合了业界标准级阿伦方差测试仪：5110A的优势，具有业内最高水准的相位噪声测量能力。

卓越的准确度

由于5120A的数字相位侦测器，5120A 成为最精准的工业测量仪器。 NIST曾校准一台5120A样机，并证实其准度高达±1.0 dB，是业界最高准确度。5120A的阿伦方差测量也是工业级的领航者： <3E-15@1秒。

超宽范围的测量能力

5120A支持最大范围的相位噪声和阿伦方差测量，适用于任何商业上产品。第一步通过把DUT和参考源信号转换数字信号，5120A采用独有专利的全数字化设计，测量时无需进行载波抑制，因此，能在最小频偏下(<0.1 mHz)测量相位噪声。同时，这项技术使5120A能够连续300天以上进行阿伦方差测量。这些技术上的优势，让客户可以比以往更好地定性其高性能频率源的水平。

先进的杂散检测技术

5120A配备完善的运算法则，实时地检测和标识杂波。通过匹配滤波器，用窗口函数的傅立叶转换，比较杂散信号响应的波形，检测杂波，并在显示屏上用红色标识，如上图5120A相位噪声显示屏截图。值得信赖的专业杂散检测技术，让你更加快捷、方便地进行测量。

操作简便

Microsemi（并购了Symmetricom公司） 结合广泛的相噪和阿伦方差测量的专业知识，创造了一机式解决方案，具有直观、简单明了的GUI。5120A自身即可完成配置及校准功能，因此无需专业技师观察检测，也能非常精确地完成测量任务，节省人力资源。如上图所示5120A-01的电路连线，将DUT信号连接至“Input”端口，之后按下绿色“Start”键，5120A将自动启动测量工作。

参考源和被测设备无需同一频点

相较传统测量系统，5120A不要求参考源的频率必须与DUT频率相同，要实现这项优势，5120A需合成两个输入频率转换成带宽。

5120A的相位探测器拥有无限的带宽范围，无需锁相两个输入。这意味着，只要有一个低噪参考源，就能实现任何被测频率下的精密测量。

多种输出选择

5120A满足打印或进一步的数据分析的应用需求。5120A只需连接兼容PostScript语言的打印机，设定好打印机，然后按下5120A上的‘Print’按钮，就能直接打印5120A的测量数据。 还可以通过以太网连接口输出测量数据到远程计算机，这些数据可导入Stable32等行业标准软件进行频率稳定性分析。

无外部参考源的精密测量

有了可选配的高性能内部参考振荡器，5120A让相位噪声测量变得更加容易， 该设备采用抵消两个内部振荡器通道间互相关噪声的方法，使其能在两个通道底噪下进行有效地测量。5120A-01可实现低至-168 dBc/Hz的精密测量，与具有相同性能参数并有外部参考振荡器的相噪测试仪相比，成本大幅降低。不再需要花费大量的时间去寻找、校准外部参考源，现在即可完全依赖于5120A-01。

全数字测试装置的优势

5120A是结合尖端定时技术，并采用Microsemi（并购了Symmetricom公司）公司专利相位测量算法的先进测量设备。如上图所示（5120A 结构框图），待测源和参考源信号进入5120A，立即被模数转换电路转换成数字信号，这使5120A在无外部锁相环的情况下，仍能进行精准的测量，无需校准测量。另外，全数字化设备5120A不要求参考源频率必须和DUT同频。

交叉相关技术

5120A 结构框图中并行的上行和下行通路，说明了该设备的互相关技术。在并行同步测量之后，5120A相交互两通路离散傅立叶变换，以评估输入设备的噪声，同时抑制两个测量子系统的独立噪声。从而实现最终测量结果比单通道设备更加接入底噪，更加精准