德国Palas 公司生产的Welas2000 气溶胶粒径谱仪, 如图3 所示。主要由控制器与颗粒测量传感器组成, 采用光散射原理实现对气溶胶浓度与粒径图2 　单级旋流管测试原理示意图分布的测量, 广泛用于欧洲各国过滤介质与分离设备效率的检测。控制器拥有一个真空泵, 可以吸入被测含尘气体, 粉尘颗粒最后吸附在控制器自带的高效过滤滤芯上。控制器上装有白光灯泡和光纤,它们是测量的关键部件。在测量时由控制器自带的真空泵定流量(5 L/min)采样, 采出的气体进入到Welas 颗粒测量传感器中, 在颗粒通过光学测量空间时, 一束从光纤传过来的白光照射在气溶胶上, 粒子就会对光产生漫散射, 散射信号经另一根光纤传入控制系统, 在其中进行信号处理, 然后将处理后的结果传入电脑, 经专门软件进行分析整理。Welas气溶胶颗粒测量传感器采用具有专利技术的T 型孔径、以保证检测的精确性。其测量原理是利用系统发出均匀的白光照射在有限的测量体积内, 来确定发生漫反射的粒子的尺寸和分布, 其工作原理如图4 所示。被测粒子稀释后, 逐个通过受测体积, 它们会产生一个具有一定强度的发散光脉冲。由于测定是依据被稀释后一个个单一的球体粒子而不是粒子的聚集, 所以这些脉冲是符合米氏散射理论的。由粒子发出的发散光强度在90°时可以被检测到,通过光的强度就可测出粒子的大小, 计算发散光脉冲个数就可统计出粒子数量, 结合测量前输入的颗Welas2000 配有控制与数据处理软件, 采用图形操作界面, 能够实现在线数据采集与分析。在测量程序部分, 此软件可设定采样次数、采样时间、采样间隔、采样体积单元大小以及样品密度等参数, 它不但能进行单独的测定实验, 还可以进行连续的实验。在测定完成后, 就可以进入分析程序部分, 对实验数据进行分析, 从图表中可以得到数量浓度、质量浓度、体积浓度、分级效率以及相对数量、体积、质量的中位粒径等数据。　对锥面掉块部位进行了宏观与金相组织检查得出引起锥面掉块的裂纹源位于锥面中心部位, 且正处于锥面磨损严重, 与气门座结合的沟槽处。其产生主要原因分析为:锥面长时间处于高负荷、高冲击作用力的磨损下, 在其表面形成了一道明显沟槽,更加剧了冲击力的集中, 从而导致锥面沟槽处受垂直作用力的情况下长时间疲劳磨损而产生裂纹, 以致掉块。2 .2 对盘外圆处缺口进行宏观检查得出:缺口因受到高温、高气流的腐蚀与冲击更加增大, 表面有受到高温烧蚀的痕迹。对其附近基体组织检查发现其中保留有马氏体位相的组织, 是属于堆焊后去应力回火遗留组织。由于马氏体组织比容大在高温下受热膨胀极其容易发生变形, 且塑性差。从而分析引起产生盘外圆缺口的主要原因是:盘部基体组织中残留的马氏体组织在高温下受热膨胀发生变形、产生内应力, 导致盘外圆裙边菱角处应力集中而开裂。并受长时间的高温、高压气流冲刷作用下形成塑性掉块。3 　主要改进措施根据气门失效的特征及宏观与金相分析制定以下改进措施:3 .1 　锥面整体掉块的主要改进措施改善气门工作受力状况, 提高锥面硬度及其耐磨性。3 .2 　盘部外圆崩缺的主要改进措施锥面堆焊后应及时去应力回火, 合理选择回火时间、温度及保证炉内温度的均匀性, 回火后应检测其热影响区基体硬度。