美国CMI MPS 微量分析空气颗粒物【型号：MPS】

美国CMI MPS 微量分析空气颗粒物【型号：MPS】

1.拥有专利技术的电子显微采样托盘 2、可直接将托盘放入显微分析仪器进行分析 3、采集颗粒物粒径切割点低至0.05um

多级显微分析空气颗粒物采样器专为扫描电镜SEM、能量色散X射线光谱分析EDXS和其他显微分析技术采集样品而设计的。采样器拥有嵌入撞击级的标准电子显微采样托盘（专利），采样后可将采样托盘直接插入显微镜进行分析，无需样品前处理，减少分析费用。

此外，样品收集在小的集中点，分析时很容易定位在高浓度地方。并且可选择不同类型的基片材料用于各种显微技术，如：X射线荧光分析XRF、投射电镜TEM、傅里叶变换红外光谱FTIR、气相色谱/质谱GC/MS。

应用领域

1. 半导体、制药、航空航天等高精密制造工业污染控制
2. 无尘室颗粒物污染分析
3. 电脑硬盘颗粒物采样
4. 环境空气、高层大气颗粒物分析

MPS-4G1型 4级无尘室显微颗粒物/气溶胶采样器
1.采集颗粒物粒径切割点低至0.05um
2.流速：7lpm
3. 气泵
4. 用于采集无尘室、颗粒物低浓度环境场合

MPS-3型 3级显微颗粒物/气溶胶采样器
1.流速：2slpm
2. 采集颗粒物粒径切割点低至0.05um
3. 气泵
4. 用于电脑硬盘、环境空气等颗粒物/气溶胶采样
5. 采样器袖珍便携

应用案例
1．台湾电力公司使用MPS-4G1型显微分析颗粒物/气溶胶采样器采集核电站放射性气溶胶，并将采集到的样品用扫描电镜进行分析。

<!--[if !supportLists]--> 2． <!--[endif]-->Chuan,Raymond L. and William Chiang,Cascade impactor Colects Airborne Samples for Particle Identification. Solid State Technology,July,1985

<!--[if !supportLists]--> 3． <!--[endif]-->Chiang,William and Raymond L. Chuan, “The Cascade Impactor as a Particulate Chromatograph for Microanalysis of Aerosol Particles” Aerosols:Science,Technology,and Industruial Applications of Airborne Particles,Liu,Pui,and Fissan,eds.,Elaevier Science Publishing,New York,1984,99pp